产品简介

该仪器主要用于对粉末、固体和类似糊状材料定性进行物相分析，该设备体积小、重量轻、耗电少,能快速对样品进行校准和测试;依据德拜谢乐几何原理,可获得高精度测试结果,衍射峰位置的测量精度+0.02o;用计算机控制，在windows窗口下可直接看到数据的采集和及时处理。广泛应用于从事地质、海洋、核反应站等研究的实验室，同时也应用于小型工业控制实验室和高等院校的教育实验室。

主要特点
无机械误差的德拜谢乐几何学:带有可连接ICDD数据库的软件的计算机控制http: //w. mticrystal. com/XRD. html

技术参数

1、电源:单相220+20V(AC).50/60Hz, X-ray

2、管功率: 10 W (25kV, 0.4mA).X-ray

3、光班尺寸: 0.2x 2mm
4、阳极靶材: Cu.X-ray
5、探测器的曲率半径: 114mm
6、探测的26范围: 0-55度
7、角度的分辨率: 0.14度
8、最大计数量: 1000次秒
9、测量的角度范围(20): 16度-121度10、衍射峰位置的测量精度: +0.02度

标准包装
体积: 400x560x300mm ;重量: 26kg

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